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      IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)
      發(fā)布日期:2021-06-25
      產(chǎn)品型號(hào):HY(IC)
      產(chǎn)品描述:IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。

      產(chǎn)品詳情

       

      IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)產(chǎn)品用途:用于檢測(cè)磁條卡,IC芯片卡,集成電路卡,等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。  

      全新升級(jí)版卡片彎曲扭曲測(cè)試儀由衡翼儀器研制*,該測(cè)試儀工位為15工位,其中5工位為長(zhǎng)邊彎曲,5工位為短邊彎曲,5工位為扭曲試驗(yàn)。將計(jì)數(shù)次數(shù)增加到9999次,計(jì)數(shù)方法采用非接處光電計(jì)數(shù)(傳統(tǒng)采用開(kāi)關(guān)量計(jì)數(shù)),將故障率幾乎降為0,彎曲量和扭轉(zhuǎn)角度任意可調(diào)。

      本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1,國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); 完全符合以上標(biāo)準(zhǔn)。

      IC卡動(dòng)態(tài)彎扭試驗(yàn)機(jī)參數(shù)規(guī)格

      測(cè)試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

      測(cè)試周期:1~9999次

      扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm

      正反向各15°,總扭曲角度30°

      長(zhǎng)邊*位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)

      長(zhǎng)邊*小位移量為2mm±0.50mm,

      短邊*位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)

      長(zhǎng)邊*小位移量為1mm±0.50mm,

      夾具安裝尺寸完全按照*標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。


      外形尺寸:L670 X W380 X H220

      儀器重量:70kg

      電 壓:AC220V±5%

      功 率:35W

       

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